Электронная микроскопия имеет многогранное применение в эту технологически управляемую эпоху. Они значительно упростили процесс обработки изображений. Tem и Sem - это два разных типа методов электронной микроскопии, которые используются сегодня. Может быть трудно найти различия между ними. Однако они существенно отличаются.
Тем против Сем
Разница между Tem и Sem в том, что Tem может сканировать только ограниченный круг образцов. С другой стороны, sem может сканировать широкий спектр образцов. Tem позволяет пользователям наблюдать за внутренними деталями образца. В отличие от этого, sem - удобный вариант для сканирования деталей поверхности образца.
Tem относится к технике, при которой образец передает пучок электронов для создания изображения. В Tem есть несколько режимов работы. Некоторые из них - это сканирующие ПЭМ-изображения, обычная визуализация, спектроскопия, дифракция и их комбинация. Кроме того, можно еще больше повысить потенциал системы с помощью серии каскадов и детекторов.
Сем относится к технике, при которой изображение создается путем сканирования с использованием сфокусированного пучка электронов. Шаблон для сканирования электронного луча представляет собой растровое сканирование. Сем позволяет человеку увидеть поверхность любого материала, от биологических образцов до геологических образцов. Кроме того, семя может иметь искусственную окраску для придания эстетического эффекта.
Таблица сравнения Tem и Sem
| Параметры сравнения | Tem | Сем |
| Полная форма | Tem означает просвечивающая электронная микроскопия. | Сем - это сканирующий электронный микроскоп. |
| Основатель | Авторы первого ТЕА принадлежат Максу Ноллу и Эрнсту Руска в 1931 году. | Заслуга ранней сканирующей микроскопии принадлежит Макмаллану. |
| Приложения | ТЕМ имеет практический подход в области химических, физических и биологических наук. | Сем позволяет человеку увидеть поверхность любого материала, от биологических образцов до геологических образцов. |
| Характеристики | Tem позволяет пользователям наблюдать за внутренними деталями образца. | Sem - удобный способ сканирования деталей поверхности образца. |
| Диапазон выборки | Тем может сканировать только ограниченный круг образцов. | Сем может сканировать широкий спектр образцов. |
Что такое Тем?
Tem означает просвечивающая электронная микроскопия. В этом методе микроскопии образец передает пучок электронов для создания изображения. Просвечивающие электронные микроскопы значительно превосходят световые микроскопы, поскольку они могут получать изображения со сравнительно более высоким разрешением. В результате устройство может учитывать каждую мельчайшую деталь предмета.
ТЕМ имеет практический подход в области химических, физических и биологических наук. Этот метод широко используется в областях вирусологии, материаловедения и исследований рака, нанотехнологий, загрязнения окружающей среды, палинологии, палеонтологии и исследований полупроводников. Таким образом, ТЕА имеет множество применений в современном мире.
В Tem есть несколько режимов работы. Некоторые из них - это сканирующие ПЭМ-изображения, обычная визуализация, спектроскопия, дифракция и их комбинация. При внимательном рассмотрении любое изображение ПЭМ представляет собой коллекцию полиовируса. Авторы первого ТЕА принадлежат Максу Ноллу и Эрнсту Руска в 1931 году. ТЕА также считается важным элементом в области нанонауки.
Система состоит из вакуумной системы, предметного столика, электронной пушки, электронной пушки и отверстий. Кроме того, существует несколько методов визуализации. Возможно дальнейшее повышение потенциала системы с помощью серии каскадов и детекторов. В заключение, ТЕМ стал техникой, широко используемой в настоящее время.
Что такое сем?
Сем - это сканирующий электронный микроскоп. В этом методе изображение создается путем сканирования с помощью сфокусированного пучка электронов. Шаблон для сканирования электронного луча - это растровое сканирование. Есть несколько семейств, у которых есть потенциал для достижения разрешения, которое намного лучше 1 нанометра.
В Sem наблюдение за образцом происходит в высоком или низком вакууме или во влажных условиях. Заслуга ранней сканирующей микроскопии принадлежит Макмаллану. Создание изображения в СЭМ является результатом взаимодействия электронного луча с атомами. В семействе возникают различные типы сигналов.
Сем позволяет человеку увидеть поверхность любого материала, от биологических образцов до геологических образцов. Sem - это быстрый сканер, который предоставляет точные детали. Это также позволяет человеку проводить наблюдения практически без пробоподготовки. Хотя sem не предоставляет трехмерных изображений, он позволяет пользователю получать трехмерные данные несколькими способами.
Сем был использован для измерения шероховатости кристаллов льда. Некоторые другие практические применения sem - это исследование поверхности разрушения металлов, измерение коррозии, фрактальная размерность и измерения размеров. Сем может иметь искусственную окраску для придания эстетического эффекта. В заключение, Сем имеет множество применений на практической арене.
Основные различия между Tem и Sem
Вывод
Подводя итог, можно сказать, что тема и основа различаются по нескольким причинам. Tem и sem имеют разные полные формы, приложения, значения и показатели эффективности. Tem означает просвечивающая электронная микроскопия. ТЕМ имеет практический подход в области химических, физических и биологических наук. С другой стороны, Sem означает растровый электронный микроскоп.
Просвечивающие электронные микроскопы значительно превосходят световые микроскопы, поскольку они могут получать изображения со сравнительно более высоким разрешением. Sem, с другой стороны, также позволяет человеку проводить наблюдения с небольшой подготовкой образца или без нее. Хотя sem не предоставляет трехмерных изображений, он позволяет пользователям получать трехмерные данные несколькими способами. В конце концов, и tem, и sem имеют несколько применений.
